檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "工業管理系".dept (精準) and ckeyword.raw="單次測量、MCE、 MEC、連串長度、事件間隔時間、 WCUSUM、韋伯分佈、 WEWMA"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
品質管控技術和新技術進步的進展導致了高質量的缺陷發生的過程。然而,在處理高質量的流程時,現有的控制製圖可能會面臨一些困難。事件間隔時間(TBE)圖可以克服傳統管製圖的困難,並且在事件發生次數較少時特…